27aXQ-6 サニャック干渉計を用いた量子ホール電子系の高感度スピン偏極イメージング(27aXQ 量子ホール効果(整数量子ホール効果),領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 2013-03-26

著者

• 室 清文

  千葉大院理

• 熊田 倫雄

  NTT物性基礎研

• 音 賢一

  千葉大院理

• 平山 祥郎

  東北大院理

• 軍司 雄太

  千葉大院理

• 長尾 圭介

  千葉大院理

• 熊田 倫雄

  NTT基礎研

• 桐生 直明

  千葉大理

• 熊田 倫雄

  NTT物性科学基礎研究所

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