26aXL-4 磁性細線中に捕捉された磁壁の局所ホール効果による検出(26aXL 半導体スピン物性(実験),領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 2006-08-18

著者

• 関根 佳明

  NTT物性研

• 関根 佳明

  NTT-BRL

• 赤崎 達志

  NTT物性基礎研

• 新田 淳作

  科技機構crest:東北大工

• 新田 淳作

  東北大院工

• 関根 佳明

  Ntt物性基礎研

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