新田 淳作 | 科技機構crest:東北大工
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概要
関連著者
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新田 淳作
科技機構crest:東北大工
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関根 佳明
NTT-BRL
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古賀 貴亮
北大院情報:北大創成
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新田 淳作
日本電信電話NTT物性研
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新田 淳作
日本電信電話(株)物性科学基礎研究所
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古賀 貴亮
北大院情報
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関根 佳明
NTT物性研
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関根 佳明
日本電信電話NTT物性研
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古賀 貴亮
日本電信電話NTT物性研
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関根 佳明
Ntt物性基礎研
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新田 淳作
NTT物性科学基礎研
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赤崎 達志
NTT物性基礎研
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奥谷 洋
北大院情報
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新田 淳作
科技機構CREST
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古賀 貴亮
科学技術振興機構さきがけ
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古賀 貴亮
さきがけ研究21科学技術振興事業団
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Veenhuizen Marc
日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所
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リン イピン
日本電信電話NTT物性科学基礎研究所
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古賀 貴亮
NTT物性科学基礎研究所、NTT電信電話株式会社
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Lin Yi
日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所
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赤崎 達志
日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所
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新田 淳作
東北大院工
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赤崎 達志
日本電信電話株式会社 NTT物性科学基礎研究所
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古賀 貴亮
科学技術振興事業団さきがけ研究21:日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所
著作論文
- 28pXB-9 正方形ループ配列構造におけるスピン干渉効果のラシュバ、ドレッセルハウス項を含めた解析(28pXB 半導体スピン物性,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 13aYB-4 Rashba スピン軌道相互作用の制御によるスピン干渉計(半導体スピン物性, 領域 4)
- 29pYF-4 正方形ループ配列にみられるRashbaのスピン軌道相互作用(半導体スピン物性)(領域4)
- 28aZK-11 正方形ループを用いたバリスティックなスピン干渉計
- 26aXL-4 磁性細線中に捕捉された磁壁の局所ホール効果による検出(26aXL 半導体スピン物性(実験),領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 21aYC-10 局所ホール効果を用いた磁壁速度の測定(半導体スピン物性,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- スピン軌道相互作用を用いた電界によるスピン制御
- 13aYB-6 InGaAs 量子井戸のスピン軌道相互作用に及ぼす InP 界面の効果(半導体スピン物性, 領域 4)
- 電界効果スピントランジスタへ向けての現状と問題点(特別ワークショップ : スピンエレクトロニクスとその応用)
- 28aZK-10 InAs 層挿入 InGaAs チャネルにおける g-因子のゲート電圧依存性