30pXC-2 ナノギャップ電極を用いた単電子トンネリングの測定(30pXC 微小超伝導体・金属量子ドット,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2006-03-04
著者
-
長谷川 剛
物質・材料研究機構国際ナノアーキテクトニクス
-
寺部 一弥
無機材質研
-
青野 正和
大阪大学大学院工学研究科
-
寺部 一弥
ナノマテリアル研究所
-
桑原 祐司
理研
-
寺部 一弥
物質材料研究機構ナノマテリアル研究所
-
根岸 良太
科技振
-
長谷川 剛
科技振
-
田中 啓文
分子研
-
寺部 一弥
科技振
-
小川 琢治
分子研
-
青野 正和
科技振
-
海老原 知子
物材機構
-
青野 正和
大阪大学大学院工学研究科精密科学専攻
-
田中 啓文
自然科学研究機構・分子科学研究所・分子スケールナノサイエンスセンター
-
根岸 良太
理化学研究所・石橋極微デバイス工学研究室
-
寺部 一弥
物質・材料研究機構国際ナノアーキテクトニクス
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