ナノスケール物性計測顕微鏡-多深針走査トンネル顕微鏡ー
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概要
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- 計測自動制御学会の論文
- 1999-12-10
著者
-
奥田 太一
東大物性研
-
青野 正和
大阪大学大学院工学研究科
-
桑原 祐司
理研
-
姜 春生
Texas大
-
青野 正和
大阪大学大学院工学研究科精密科学専攻
-
中山 知信
理化学研究所表面界面工学研究室
-
姜 春生
理化学研究所表面界面工学研究室
-
奥田 太一
理化学研究所表面界面工学研究室
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