23pWB-5 二探針STM法によるSi(111)表面電気抵抗計測 : 探針間距離依存性
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2000-09-10
著者
-
青野 正和
理研
-
奥田 太一
東大物性研
-
桑原 祐司
理研
-
姜 春生
Texas大
-
青野 正和
大阪大学大学院工学研究科精密科学専攻
-
田中 啓文
自然科学研究機構・分子科学研究所・分子スケールナノサイエンスセンター
-
中山 知信
理研
-
田中 啓文
理研
-
小林 伸彦
理研
-
小林 伸彦
筑波大学物理工学系
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