12p-DH-8 Si(111)7x7表面の原子欠陥近傍におけるSTMによるSi原子除去確率の変化
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1993-09-20
著者
-
青野 正和
理研
-
内田 裕久
豊橋技科大
-
内田 裕久
新技団青野プロジェクト
-
青野 正和
新技団青野プロジェクト
-
青野 正和
大阪大学大学院工学研究科精密科学専攻
-
Grey F.
新技団青野プロジェクト
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