20pRB-2 電子プローブを用いた軟X線領域スペクトルによる局所電子状態解析(20pRB 領域10シンポジウム:TEMによる最先端局所構造解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2008-08-25
著者
-
武藤 俊介
名古屋大学大学院工学研究科
-
武藤 俊介
大阪大学教養部
-
武藤 真三
山梨大学
-
Muto S
Fujitsu Laboratories Ltd.
-
Muto S
Kek Ibaraki
-
武藤 俊介
名古屋大学
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