EXELFS-ウェーブレット法による非晶質の三体分布情報の抽出

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 2000-05-01

著者

• 武藤 俊介

  名古屋大学大学院工学研究科

• 武藤 俊介

  名古屋大学理工科学総合研究センター

• 武藤 俊介

  名古屋大学

関連論文

• 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(8)-照射効果の解明と耐照射材料および新素材開発をめざして-」の企画にあたって
• 非等方PIXON法によるリチウムイオン二次電池材料の微量添加元素のEELS分析
• 自動車排ガス浄化用助触媒β-Ce_2Zr_2O_の高分解能像と電子損失エネルギー分光スペクトル
• Ce_2Zr_2O_7とβ-Ce_2Zr_2O_の結晶構造
• 電子エネルギー損失分光法によるセリア-ジルコニア固溶体の規則相の解析
• 可視光応答型チタニア光触媒における窒素状態解析
• 窒素イオン注入によるチタニア光触媒の可視光応答化
• 18pTH-5 RMC-EXELFS法による非晶質・ガラスの構造解析
• 高角度分解能チャネリングEELSによるサイト選択的結晶場分裂の測定
• TEM用MCX-WDX分光器による遷移金属元素分析
• 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
• 特集「電子顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(4)」特集企画にあたって
• 30aUB-7 ナノグラファイトの構造・機能評価 : 秩序と無秩序の間(30aUB 領域10シンポジウム:カーボン物質の機能性ナノ構造形成,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• GaAs結晶中のヘリウム・バブルからの透過電子回折 : 結晶内部表面構造
• Size, density, and shape of InAs quantum dots in closely stacked multilayers grown by the Stranski-Krastanow mode
• Lattice Deformation and Ga Diffusion Concerning InAs Self-Assembled Quantum Dots on GaAs(100) as a Function of Growth Interruption Time
• InAs Self-Assembled Quantum Dots Coupled with GaSb Monolayer Quantum Well
• Crystallographic Properties of Closely Stacked InAs Quantum Dots Investigated by Ion Channeling
• Threading Dislocations in Multilayer Structure of InAs Self-Assembled Quantum Dots
• EXELFS-ウェーブレット法による非晶質の三体分布情報の抽出
• Electron Spin-relaxation Dynamics in GaAs/AlGaAs Quantum Wells and InGaAs/InP Quantum Wells
• シリコン表面の水素イオン照射誘起ブリスターの非破壊構造解析と内部ガス圧評価
• ブリスタリングによる応力変調を利用した局所シリコン酸化の観察
• 27p-H-10 GaAs中のSi集合体の構造 II
• 26a-T-1 Ge, Siの電子線照射誘起欠陥の構造
• Critical cluster size of InAs quantum dots formed by Stranski-Krastanow mode
• Indium Adatom Migration in InAs/GaAs Quantum-Dot Growth
• D^+照射により形成されたタングステン表面ブリスターの低角度入射電子顕微鏡観察
• 低角度入射電子顕微鏡法による表面微小構造体の非破壊分析
• 30p-ZN-11 高濃度にSiをドープしたGaAs結晶中のSi集合体の構造
• On extended energy-loss fine structure data analysis for obtaining reliable structural parameters
• The Influence of X-Ray Irradiation on Structural Relaxation and Crystallization of Amorphous Silicon Films
• 29p-N-11 重水素及びヘリウムイオン照射によるシリコンの非晶質化
• 30p-YC-5 高分解能電子顕微鏡で見た半導体中の水素誘起欠陥
• 4p-YG-2 重水素照射されたシリコン中の新しいタイプの拡張欠陥
• 29a-P-4 Geにおける水素集合体の解離過程
• 12p-DK-10 シリコンにおける水素誘起欠陥の構造
• 27p-K-6 半導体の電子線及びイオン照射誘起2次欠陥の構造
• 24a-T-9 IV族及びIII-V族半導体における水素誘起欠陥
• 5a-Z-11 軽ガスイオン照射によってできた半導体中の板状欠陥
• 2p-F-10 Si・Ge・III-V族半導体のイオン照射欠陥
• シンクロトロン放射光照射による非晶質シリコンの局所構造緩和
• Development of a Mist Singlet Oxygen Generator
• 霧化型励起酸素発生器の基礎研究III
• Numerical Simulation of a Mist Singlet Oxygen Generator(Optics and Quantum Electronics)
• 霧化型励起酸素発生器の基礎研究II
• 霧化型励起酸素発生器の基礎研究
• 6a-S-11 電子照射による黒鉛の構造変化 : II.ELNES・EXELFSによる化学結合変化
• TEM-EXELFS 法の効用 - EXAFS 法との対比 -
• 種々の電子状態評価技法の比較--ELNESに基づく化学結合性の議論
• Exchange Interaction of Optically Created Electrons in Coupled Quantum Dots
• Comparative Studies on Sensitivity and Stability of Fiber-optic Oxygen Sensor Using Several Cladding Polymers
• Preliminary Experiment for Polymer Waveguide-Type Optical Isolator : A Pulsed Optical Isolator Operation in Poly(l-Menthylmethacrylate/Benzylmethacrylate)Copolymer Slab Waveguide
• A New Plastic Optical Fiber Sensor for Oxygen Based on Fluorescence Enhancement
• 学会賞(瀬藤賞)受賞論文 各種信号処理・統計的手法の電子顕微鏡データへの応用
• 複合電子分光による機能元素分析と物性画像診断
• 電子分光と第一原理計算に基づくTEM-EELS画像演算による鉄炭化物中水素の高空間分解能可視化の試み
• スピネル型酸化物Mn_3O_4からのMn L_電子線チャネリング条件下ELNES
• 複合電子顕微分光への展望とその応用の可能性
• 20pRB-2 電子プローブを用いた軟X線領域スペクトルによる局所電子状態解析(20pRB 領域10シンポジウム:TEMによる最先端局所構造解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 位置選択的電子エネルギー損失分光法によるナノ表面・界面電子状態測定とその空間分布の可視化
• 電子エネルギー損失スペクトル微細構造解析の軽元素分析への応用
• Change in Mechanical Properties of Ion-Irradiated Ceramics Studied by Nanoindentation
• 電子エネルギー損失スペクトル微細構造解析の軽元素分析への応用
• 放射光・電子分光法融合による触媒活性種の化学状態解析
• アルミニウム水素化物の合成および原子配置と水素放出特性
• 透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析
• エネルギー損失広域微細構造による短距離構造相関の解析 - 二体分布から多体分布導出へ -
• 反応科学超高圧電子顕微鏡の開発
• 電子顕微鏡分光と第一原理計算によるリチウム電池正極の機能元素電子状態解析 (特集 機能元素が拓く新しいセラミックス材料の世界)
• STEM-EELS多変量解析を用いたLi化学状態マッピング (特集 TEMをもちいた電池のイメージング)
• 多変量スペクトル解析によるナノ物性マッピング
• 25pBB-3 エネルギー・環境材料と格子欠陥 : 分光TEMによる展開(25pBB 領域10,領域9合同シンポジウム:エネルギー・環境材料の機能と格子欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• STEM-EELS多変量解析を用いたLi化学状態マッピング
• 8pSK-1 高エネルギー透過電子エネルギー損失分光による短距離構造解析(主題:無秩序系における短・中距離秩序構造解析の最近の進展 : 回折強度測定とエネルギー吸収端微細構造法の比較,領域10シンポジウム,領域10)
• 各種信号処理・統計的手法の電子顕微鏡データへの応用
• 電子顕微鏡分光と第一原理計算によるリチウム電池正極の機能元素電子状態解析
• TEM-EXELFS法の特徴とその応用の現状と展望
• 7. 非金属材料におけるヘリウム照射損傷について(核融合炉材料のヘリウム損傷)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク