半ピッチシフト方式とビット線分離型2T1MTJセルを用いた混載向け250MHz、1Mb-MRAMマクロ(メモリ技術(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリー))
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
0.15μm、1.5V CMOS技術を用いた1Mbit MRAMマクロにおいて不揮発メモリとして最高速の250MHz動作を実証した。本メモリマクロは、半ピッチシフト配置されたビット線分離型の2T1MTJセル(6.97μm^2)によりメモリアレイが形成されている。この方式はビット線の寄生容量を削減でき、対称性の良いセンス動作が可能になることから動作周波数をSRAMと同程度にまで高速化が可能となった。このMRAMマクロは混載SRAMインターフェースと互換であり、将来のSoCへ適用できる見通しを得た。
- 2008-04-10
著者
-
笠井 直記
日本電気(株)
-
杉林 直彦
日本電気(株)
-
根橋 竜介
日本電気(株)
-
崎村 昇
日本電気(株)
-
本庄 弘明
日本電気(株)
-
斉藤 信作
日本電気(株)
-
加藤 有光
日本電気(株)
-
斉藤 信作
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
崎村 昇
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
本庄 弘明
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
加藤 有光
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
杉林 直彦
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
笠井 直記
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
関連論文
- 垂直磁化磁壁移動セルを用いた高速低電流MRAM(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- SoC混載に適した垂直磁化磁壁移動型MRAM
- ED2000-137 / SDM2000-119 / ICD-2000-73 TaおよびTaN積層バリア膜をもつCu/poly-SiダマシンゲートMOSFET
- ED2000-137 / SDM2000-119 / ICD2000-73 TaおよびTaN積層バリア膜をもつCu/poly-SiダマシンゲートMOSFET
- 高疲労耐性を有する96KbitCMVP・FeRAMを搭載したコンタクトレス型スマートカード用LSI
- MRAMの技術動向、今後の展開、32MbMRAM開発(メモリ技術)
- 混載向け高速MRAMセル技術(新メモリ技術とシステムLSI)
- 4MbMRAMとその応用(新メモリ技術とシステムLSI)
- 4Mb-MRAMのインテグレーション技術
- 超小型コアヘッドによる高周波磁気記録
- SC-5-4 Co-Ni-Feめっき膜を用いた高密度記録ヘッドの開発
- 高飽和磁化磁極を用いた記録ヘッド : 高速記録用小型コアCo-Ni-Fe記録ヘッド
- MR2000-15 高速記録用小型コア高Bsヘッドの記録特性
- 高Bs記録ヘッドによる高保磁力媒体への記録特性
- 高速記録用小型コア高Bsヘッドの記録特性
- 高Be記録ヘッドによる高保磁力媒体への記録特性
- オフトラックノイズ特性に及ぼす記録ヘッドの影響
- SB-2-1 薄膜シールディドループコイルによる配線上の磁界計測
- 2μmグランド開口を有する高周波磁界センサー用微小ループコイルの試作
- ED2000-137 / SDM2000-119 / ICD2000-73 TaおよびTaN積層バリア膜をもつCu/poly-SiダマシンゲートMOSFET
- 垂直磁化磁壁移動セルを用いた高速低電流MRAM(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- オフトラックノイズ特性に及ぼす記録ヘッドの影響
- 多分割アレイ構造を有する30ns 256Mb DRAM
- A 4-level Storage 4Gb DRAM
- C-12-5 磁気フリップフロップによる不揮発性論理演算マクロの設計と実証(C-12.集積回路,一般セッション)
- スピン移行トルク磁壁移動を用いた高速磁気ランダムアクセスメモリ
- (Ba,Sr)TiO_3(BST)薄膜を用いたギガビットDRAM用キャパシター形成技術
- 短チャネルMOSFET特性を評価するための電気的なゲート長測定素子
- 半ピッチシフト方式とビット線分離型2T1MTJセルを用いた混載向け250MHz、1Mb-MRAMマクロ(メモリ技術(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリー))
- 2-2 シリコン不揮発性メモリ技術の限界を突破するスピントルク注入形磁気メモリの最新動向(2.不揮発性メモリ技術の最前線,世界的な競争領域にある最先端デバイス技術)
- 3端子磁壁移動型セルを用いた不揮発性コンテントアドレッサブルメモリ(メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- 7 スピントロニクスを用いた集積回路と省エネ社会への貢献(東北から明るい未来を創るICT技術)
- スピン論理集積回路における基本ゲートの高信頼化技術(メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)