タイミングマージンテスト機能を有する1GHz-2GHz4相クロック発生器(アナログ・デジアナ・センサ,通信用LSI)
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概要
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チップ上でLSIのタイミングマージン試験を可能にする多機能オンチップクロック発生器を提案する.5ps刻みで,クロック周期調整,デューティ比調整,位相調整,ジッタ発生を可能にする.テストチップを90mn CMOSプロセしスで試作した.マクロ面積は300umx128um,消費電力は40mW,動作周波数は1GHz〜2GHzである.
- 2007-07-19
著者
-
水野 正之
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
-
水野 正之
日本電気株式会社
-
帰山 隼一
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
梶田 幹浩
日本電気株式会社
-
帰山 隼一
日本電気株式会社
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