1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式 : 耐雑音特性の評価(システムオンシリコン,RFID技術及び一般)
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概要
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多数のタグが存在するRFID(radio frequency identification)やセンサネットワークシステムにおける,高速ID(identification)識別方式の検討を行う.タグ存在確認を行うランダムアクセス試行に1ビットのフラグを用いることで通信に要する情報量を最小化し,ID識別処理の高速化を図った.1ビットフラグに熱雑音による誤りを加えた場合の特性評価を行った.その結果,1ビットフラグの誤り率が0.01の場合でもID識別時間の増加は7.7%であった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-11-16
著者
-
高木 直
東北大学電気通信研究所
-
中瀬 博之
東北大学電気通信研究所
-
小熊 博
東北大学 電気通信研究所
-
亀田 卓
東北大学 電気通信研究所
-
高木 直
東北大学 電気通信研究所
-
坪内 和夫
東北大学 電気通信研究所
-
中瀬 博之
東北大学 電気通信研究所
-
福與 賢
東北大学電気通信研究所
-
福與 賢
東北大学 電気通信研究所
-
山口 敦由
東北大学電気通信研究所
-
山口 敦由
東北大学 電気通信研究所
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