1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式 : EPCglobal Glass-1 Generation-2との比較
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概要
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多数のタグが存在するRFID(radio frequency identification)やセンサネットワークシステムにおける,高速ID(identification)識別方式の検討を行う.ID識別の際に行われるランダムアクセスにおいて,1ビットのフラグを用いて通信に要する情報量を最小化することで,識別時間の短縮を図った.その結果,多数のタグを想定しているRFID規格EPC(Electronic Product Code) global Class-1 Generation-2に比べ,識別時間を約51%に短縮可能であることを示した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-10-20
著者
-
高木 直
東北大学電気通信研究所
-
中瀬 博之
東北大学電気通信研究所
-
小熊 博
東北大学 電気通信研究所
-
亀田 卓
東北大学 電気通信研究所
-
高木 直
東北大学 電気通信研究所
-
坪内 和夫
東北大学 電気通信研究所
-
中瀬 博之
東北大学 電気通信研究所
-
福與 賢
東北大学電気通信研究所
-
福與 賢
東北大学 電気通信研究所
-
山口 敦由
東北大学電気通信研究所
-
山口 敦由
東北大学 電気通信研究所
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