山口 敦由 | 東北大学 電気通信研究所
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概要
関連著者
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亀田 卓
東北大学 電気通信研究所
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坪内 和夫
東北大学 電気通信研究所
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中瀬 博之
東北大学 電気通信研究所
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山口 敦由
東北大学電気通信研究所
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山口 敦由
東北大学 電気通信研究所
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小林 宏樹
東北大学 電気通信研究所
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小林 宏樹
東北大学電気通信研究所
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飯塚 洋介
東北大学 電気通信研究所
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小熊 博
東北大学 電気通信研究所
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高木 直
東北大学電気通信研究所
-
高木 直
東北大学 電気通信研究所
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福與 賢
東北大学電気通信研究所
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福與 賢
東北大学 電気通信研究所
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中瀬 博之
東北大学電気通信研究所
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北岸 洋一
東北大学 電気通信研究所
著作論文
- 1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式 : 耐雑音特性の評価(システムオンシリコン,RFID技術及び一般)
- 1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式 : EPCglobal Glass-1 Generation-2との比較
- AS-3-11 1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式 : 1ビットフラグの耐雑音特性の評価(AS-3.将来ライフを拓くユビキタス技術(1)-RFID(ICカード・ICタグ)技術-,シンポジウム)
- パケットSS-CDMAシステム : キャリア周波数偏差補償回路の検討
- A-5-17 パケットSS-CDMA通信用ワンチップモデム : キャリア周波数偏差補償回路の検討(2)
- A-5-16 パケットSS-CDMA通信用ワンチップモデム : キャリア周波数偏差補償回路の検討(1)
- A-5-15 SS-CDMAフレシキブルワイヤレスネットワーク : (3) TDD 双方向通信ディジタルワンチップモデム
- A-5-14 SS-CDMAフレシキブルワイヤレスネットワーク : (2)近似同期CDMA方式ディジタルワンチップモデム
- A-5-13 SS-CDMAフレキシブルワイヤレスネットワーク : (1)位相偏差補償回路
- 近似同期CDMA方式におけるセル間干渉の影響
- 近似同期CDMA方式におけるセル間干渉の影響
- 近似同期CDMA方式におけるセル間干渉の影響
- 近似同期CDMA方式におけるセル間干渉の影響
- 1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式の評価(誤り訂正,MAC,無線通信一般)
- B-5-144 フラグを用いた高速RFID識別方式(2) : 実測による評価(B-5.無線通信システムB(ワイヤレスアクセス),一般講演)
- B-5-143 フラグを用いた高速RFID識別方式(1) : 計算機シミュレーション評価(B-5.無線通信システムB(ワイヤレスアクセス),一般講演)
- A-5-12 パケットSS-CDMA通信用ワンチップモデム : チャネル多重の検討
- A-5-9 DMFを用いた近似同期CDMA方式の考察