微細化にともなうAMIのFPN : 情報入力
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概要
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We have developed a 250K pixel amplifying type solid-state imaging sensor(AMI) of a 1/4 inch format with a new circuit technique using 0.8 μm design rule. Simultaneously we have developed a test device for fixed pattern noise (FPN), and actually measured it. The FPN of AMI is not affected by the gate length of mixing transistor Tg and switching transistor Ty, but also largely by the gate length of amplifying transistor Ta and resetting transistor Tr. The correlation index of them is observed to be 25 for Ta, and 20 for Tr.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1994-05-27
著者
-
安藤 文彦
日本放送協会放送技術研究所
-
山脇 正雄
三菱電機株式会社 LSI研究所
-
山脇 正雄
三菱電機株式会社ulsi開発研究所
-
川島 光
三菱電機株式会社ULSI開発研究所
-
小田 江里奈
東京工芸大
-
川島 光
三菱電機(株)ULSI研究所LSIプロセス開発第4部
-
山脇 正雄
三菱電機(株)ULSI研究所LSIプロセス開発第4部
-
安藤 文彦
Nhk放送技術研究所
-
安藤 文彦
Nhk放送技術研究所 立体映像音響
-
安藤 文彦
Nhk技研
-
山脇 正雄
三菱電機(株)
-
小田 江里奈
東京工芸大学工学部
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