SC-6-3 DC & RF Characteristics of Sub-micron Gate Diamond FETs

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2003-09-10

著者

• 川原田 洋

  早大理工

• 梅沢 仁

  産総研

• 川原田 洋

  早稲田大学理工学部

• 平間 一行

  早大理工

• 宋 光燮

  早稲田大学理工学部電子・情報生命学科

• 梅沢 仁

  早稲田大学理工学部電子・情報生命学科

• 平間 一行

  早稲田大学理工学部

• 宮本 真吾

  早稲田大学理工学部科学技術振興事業団戦略的創造研究推進事業

• 松平 弘樹

  早稲田大学理工学部科学技術振興事業団戦略的創造研究推進事業

• 河野 真宏

  早稲田大学理工学部科学技術振興事業団戦略的創造研究推進事業

• 宮本 真吾

  科学技術振興事業団:早稲田大学理工学部

• 宋 光燮

  早稲田大学理工学部電子・情報生命学科:早稲田大学ナノ研究センター

• 川原田 洋

  早稲田大学理工学術院

• 川原田 洋

  早大理工学術院

• 宋 光燮

  早稲田大学理工学部

• 川原田 洋

  早稲田大学・理工学部

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