BISTと外部テストの組合せでのテスト時間の分析とコア・ベース設計のテスト時間最小化
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概要
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本論文では, BISTと外部テストを併せて用いるCBETのテスト手法を用いた時のテスト時間の分析を行う.本分析は設計における多くの場合において外部テストあるいはBISTを単独で行う場合よりもCBETは短いテスト時間を成し遂げることができることを示す.さらに, コア・ベース設計のためのテスト時間最小化アルゴリズムを与える.このアルゴリズムは上記の分析によって得られた特性を考慮して設計される.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-03-02
著者
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
杉原 真
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
伊達 博
(財)九州システム情報技術研究所
-
伊達 博
九州システム情報技術研究所
-
安浦 寛人
九州大学大学院 システム情報科学研究院
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