伊達 博 | (財)九州システム情報技術研究所
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概要
関連著者
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伊達 博
(財)九州システム情報技術研究所
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安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究院
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安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
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安浦 寛人
九州大学大学院 システム情報科学研究院
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杉原 真
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
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伊達 博
九州システム情報技術研究所
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杉原 真
九州大学 大学院 システム情報科学研究科
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チャクラバーティ クリシュナンデュ
デューク大学
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アイヤンガー ヴィクラム
デューク大学
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杉原 真
九州大学
著作論文
- 部分的にマージ可能なコアを用いたLSI設計情報保護の数理モデル
- BISTと外部テストの組合せでのテスト時間の分析とコア・ベース設計のテスト時間最小化
- BISTと外部テストの組合せでのテスト時間の分析とコア・ベース設計のテスト時間最小化
- コアによって構成されるシステムLSIのテスト手法 : テストの効率を考慮したBISTと外部テストの組み合わせ
- コアによって構成されるシステムLSIのテスト手法 : テストの効率を考慮したBISTと外部テストの組み合わせ
- コアによって構成されるシステムLSIのテスト時間の最適化問題
- BIST (Built-in-Self Test)技術
- コアベースシステムLSIに対するテストの課題
- 実数値シミュレーションに基づくテスト容易性評価モデル
- 実数値シミュレーションに基づくテスト容易性評価モデル
- 6.並列LSI-CADにおける成果と課題 (第五世代コンピュータプロジェクトの成果と残された課題)