コアによって構成されるシステムLSIのテスト手法 : テストの効率を考慮したBISTと外部テストの組み合わせ
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概要
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本稿では, 複数のコアを用いたシステムLSIのテスト時間を削減する手法を提案するとともに, テスト時間最小化問題を定義する.本手法は, 各コアとともに複数のテストパターンが提供されることを前提としている.これらのテストパターンはBISTと外部テストで構成されている.また、これらのテストパターンは要求値以上の故障検出率を達成し, 互いにBISTと外部テストのサイクル数が異なるものである.本手法は外部入出力に注目し, 設計するシステムLSIのテスト時間が最小となるように, 各コアのテストパターンを選択する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-05-22
著者
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
杉原 真
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
伊達 博
(財)九州システム情報技術研究所
-
伊達 博
九州システム情報技術研究所
-
安浦 寛人
九州大学大学院 システム情報科学研究院
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