CVD酸化膜の吸湿過程と水の脱離機構
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概要
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CVD酸化膜の吸湿過程と水の脱離機構についてTDS及びFT-IR法により検討した。CVD酸化膜からの主な脱ガスはH_2とH_2Oであり、約100℃から700℃で起こる。水の脱離については、100-200℃、150-300℃、350-650℃間で脱離する固有の3つの状態が認められた。100-300℃で脱離する水は、膜形成後に大気中で吸湿した水でマクロ・ポア・サイトに閉じ込められた液状の水とマクロ・ポア・サイトの一部に存在するSi-OH基に水素結合したH_2O分子によるものと考えられる。膜形成時に導入されたSi-OHは、非晶質の構造変化(マクロ・ポアの消失)によって350-650℃の低温でH_2Oとして脱離するものと考えられる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-04-22
著者
-
内田 英次
沖電気工業(株)超LSI研究開発センタ
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平下 紀夫
沖電気工業(株)超LSI研究開発センタ
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平下 紀夫
沖電気工業株式会社超lsi研究セソタ
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時藤 俊一
沖電気工業超LSI研究開発センタ
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時藤 俊一
沖電気工業株式会社生産センタ
-
平下 紀夫
沖電気工業 (株) 超LSI開発センタ
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