バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察

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概要

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• 2012-02-06

著者

• 亀山 修一

  富士通株式会社

• 高橋 寛

  山形大 工

• 高橋 寛

  愛媛大学

• 亀山 修一

  富士通株式会社:愛媛大学

• 馬場 雅之

  富士通株式会社

• 樋上 喜信

  愛媛大学

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