X線逆格子イメージング法によるナノ材料の迅速評価
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概要
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- 日本セラミックス協会の論文
- 2006-12-01
著者
-
坂田 修身
(財)高輝度光科学研究センター
-
坂田 修身
JASRI
-
吉本 護
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
吉本 護
東工大
-
坂田 修身
Jst-crest:高輝度光科学研
-
坂田 修身
高輝度光科学研究センター
-
坂田 修身
Spring-8 Jasri
-
坂田 修身
財団法人 高輝度光科学研究センター
-
坂田 修身
財団法人 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門
-
坂田 修身
高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門
-
三本 一司
物質・材料研究機構
-
吉本 護
東京工業大学
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