25aZD-4 透過型X線反射率(TXR)法による寒天ゲル/Si界面のその場観察(ゲル・濡れ,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2005-03-04
著者
-
寺内 暉
関学大理工
-
川端 和重
北大院理
-
高橋 功
関学大理工
-
坂田 修身
JASRI
-
北原 周
関学大理工
-
中林 史智
関学大理工
-
寺内 暉
関西学院大
-
上石 直哉
関学大理工
-
川端 和重
北大院・理・生物科学
-
川端 和重
北海道大学 大学院理学院生命理学専攻細胞ダイナミクス科学分野
-
坂田 修身
Jst-crest:高輝度光科学研
-
坂田 修身
高輝度光科学研究センター
-
坂田 修身
財団法人 高輝度光科学研究センター
-
森 克仁
早大理工
-
野田 武宏
関西学院大理工
-
高橋 功
関学理
-
坂田 修身
高輝度光科学研究センター放射光研究所利用促進部門
-
川端 和重
北大院理・物理
-
野田 武宏
関学大理工
-
杉本 吉規
関学大理工
-
森 克仁
関学大理工
-
高橋 功
京大理
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