15a-B-8 Total Yield SpectroscopyによるC_<60>薄膜の電子状態の観察
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1993-09-20
著者
-
石田 洋一
東京工業大学 応用セラミックス研究所
-
鯉沼 秀臣
東工大工材研
-
鯉沼 秀臣
東京大学工学部工業化学科
-
吉本 護
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
権太 聡
東工大工材研
-
荒金 崇士
東工大工材研
-
浅川 寿昭
東工大工材研
-
川崎 雅司
東工大工材研
-
吉本 護
東工大工材研
-
鯉沼 秀臣
(独)科学技術振興機構 研究開発戦略センター
-
吉本 譲
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
荒金 崇士
東京工業大学工業材料研究所
-
浅川 寿昭
東京工業大学応用セラミックス研究所:(現)ミネベア(株)開発センター
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