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龍谷大学電子情報学科 | 論文
- Poly-Si TFTを用いたデバイスレベルのニューラルネットワーク(シリコン関連材料の作製と評価)
- Extraction Technique of Trap Density at Grain Boundaries in Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors with Device Simulation
- Classification of Driving Methods for TFT-OLEDs and Novel Proposal Using Time Ratio Grayscale and Current Uniformization(Electronic Displays)
- 表側と裏側の絶縁膜界面にトラップ準位をもつポリシリコン薄膜トランジスタのデバイスシミュレーション(ディスプレイ-IDW'03関連-)
- Extraction of Trap Densities at Front and Back Interfaces in Thin-Film Transistors
- Poly-Si TFT特性の酸化膜界面トラップと結晶粒界トラップに対する依存性およびその製造プロセス診断への応用(半導体Si及び関連材料・評価)
- Numerical Model of Thin-Film Transistors for Circuit Simulation Using Spline Interpolation with Transformation by y=x + log(x)(Regular Section)
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの絶縁膜-シリコン界面と結晶粒界のトラップ準位の抽出(低温または高温多結晶Siとアクティブマトリックス型ディスプレイ用薄膜トランジスタ論文特集)
- Extraction of Trap State at the Oxide-Silicon Interface and Grain Biundary in Polycrystallune Silicon Thin-Film Transistors
- Device Simulation of Grain Boundaries in Lightly Doped Polysilicon Films and Analysis of Dependence on Defect Density
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性解析とシミュレーション
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性解析とシミュレーション
- 低温多結晶シリコン薄膜トランジスタ駆動発光ポリマーディスプレイ
- Extraction of Trap States at the Oxide-Silicon Interface and Grain Boundary for Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors : Semiconductors
- Current Density Enhancement at Active Layer Edges in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors : Semiconductors
- Device Simulation of Carrier Transport through Grain Boundaries in Lightly Doped Polysilicon Films and Dependence on Dopant Density : Semiconductors
- Current Paths over Grain Boundaries in Polycrystalline Silicon Films : Semiconductors
- マイクロ波自由空間技術を用いた密度に依存しない高含水率測定法
- C-2-120 2周波マイクロ波位相変化量による密度に依存しない高含水率測定(C-2. マイクロ波C(応用装置), エレクトロニクス1)
- Poly-Si TFTによるデバイスレベルのニューラルネットワーク(シリコン関連材料の作製と評価)