池田 徹 | 京都大学 大学院工学研究科
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概要
関連著者
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池田 徹
京都大学 大学院工学研究科
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池田 徹
京都大学大学院工学研究科
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京都大学大学院工学研究科
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宮崎 則幸
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福岡県工業技術センター機械電子研究所
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京大
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福岡工技セ
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九州大学大学院工学研究院化学工学部門
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京大
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宮崎 則之
京大工
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Miyazaki Noriyuki
Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute Komazawa Office
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九州大学
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宮崎 則幸
九州大学工学部化学機椀工学科
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池田 徹
鹿児島大学大学院理工学研究科
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福同工技セ
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友景 肇
福岡大学
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森 栄輔
九州大学・院
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吉田 圭佑
京都大学大学院工学研究科
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松田 和敏
ソニーセミコンダクタ九州(株)
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松本 龍介
京大工
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松本 龍介
京都大学大学院工学研究科
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宍戸 信之
京都大学大学院工学研究科
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小金丸 正明
福岡工技センター
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内野 正和
福岡工技セ
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沼田 孝
住友ベークライト
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田中 宏之
住友ベークライト
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内野 正和
福岡県工業技術センター 機械電子研究所
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吉田 佳佑
京都大・院
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京都大院・学
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桑原 達彦
京大院
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久保田 真光
京都大学[院]
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桑原 達彦
京都大学[院]
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松本 龍介
京都大学
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濱田 学
京都大学 大学院工学研究科
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田中 宏之
住友ベークライト (株) 情報・通信材料総合研究センター
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宮崎 則幸
京都大
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池田 徹
京都大
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友景 肇
福岡大
著作論文
- 樹脂封止されたICチップ表面の残留応力評価(OS1b 電子デバイス実装・電子材料と計算力学)
- デジタル画像相関法によるひずみ分布計測(2) : 計測システムの検証と応用計測(G03-6 実験計測(2),G03 材料力学)
- 1714 1軸負荷に起因するnMOSFETの電気特性変動デバイスシミュレーション(OS17. 電子デバイス・電子材料と計算力学(3),オーガナイズドセッション講演)
- 1503 応力効果を考慮したデバイスシミュレーションによるナノデバイス(nMOSFET)特性変動評価(OS15.電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション)
- 1713 ピエゾ抵抗チップとディジタル画像相関法を用いたパッケージ構成材料に起因するチップ表面の残留応力評価(OS17. 電子デバイス・電子材料と計算力学(3),オーガナイズドセッション講演)
- 426 デジタル画像相関法を用いた空間解像度の異なる観察系で連携した変形場評価手法の開発と多結晶金属への適用(評価・計測I,一般セッション)
- 半導体パッケージのはんだリフロー強度予測技術-その1-