野平 博司 | 東京都市大
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概要
関連著者
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野平 博司
東京都市大
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Nohira Hiroshi
Faculty Of Engineering Musashi Institute Of Technology
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角嶋 邦之
東京工業大学
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岩井 洋
東京工業大学
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小松 新
東京都市大学工学部
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岩井 洋
東工大フロンティア研
-
岩井 洋
東京工業大学フロンティア創造共同研究センター
-
筒井 一生
東京工業大学大学院 総合理工学研究科
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服部 健雄
東京工業大学フロンティア創造共同研究センター
-
アヘメト パールハット
東京工業大学 フロンティア創造共同研究センター
-
岩井 洋
(株)東芝研究開発センターulsi研究所
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金原 潤
東京工業大学大学院総合理工学研究科
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宮田 陽平
東京工業大学大学院総合理工学研究科
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澤野 憲太郎
東京都市大
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室 隆桂之
JASRI
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室隆 桂之
SPring-8 JASRI
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澤野 憲太郎
東京都市大学 総合研究所
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室 隆桂之
高輝度光科学研究センター
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角嶋 邦之
東工大総理工
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室 桂隆之
JASRI SPring-8
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白木 靖寛
都市大総研
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上野 和良
芝浦工大
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廣瀬 和之
宇宙研
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服部 健雄
東北大学未来科学技術共同研究センター
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澤野 憲太郎
都市大総研
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白木 靖寛
東京都市大学
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岩井 洋
東京工業大学フロンティア研究機構
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小林 大輔
宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部
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ザデ ダリューシュ
東京工業大学フロンティア研究機構
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五十嵐 智
東京都市大
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石原 由梨
芝浦工大
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渋谷 寧浩
東京都市大
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小林 大輔
宇宙研
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ミロノフ マクシム
Warwick大学
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那須 賢太郎
東京都市大学工学部
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星 裕介
東京都市大学工学部
-
榑林 徹
東京都市大学工学部
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沼尻 侑也
東京都市大学
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山下 晃司
東京都市大学
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パルハット アヘメト
東京工業大学フロンティア研究機構
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澤野 憲太郎
東京都市大学
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白木 靖寛
東京都市大学工学部
-
室 隆桂之
SPring-8-JASRI
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野平 博司
東京都市大学工学部
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角嶋 邦之
東京工業大学フロンティア研究機構
-
白木 靖寛
東京都市大
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渡辺 将人
東京都市大学
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泉 雄大
公益財団法人高輝度光科学研究センター
-
泉 雄大
高輝度光科学研究セ
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室 桂隆之
公益財団法人高輝度光科学研究センター
-
室 隆桂之
高輝度光科学光科学研究センター
-
木下 豊彦
高輝度光科学光科学研究センター
-
岡田 葉月
東京都市大学
著作論文
- XPS時間依存測定法によるSiO_2/Si界面の電荷トラップ密度の面方位依存性の評価(ゲート絶縁薄膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- AR-XPSによる種々の表面処理したIn_Ga_As表面の化学結合状態の評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- 角度分解硬X線光電子分光法によるHfO_2/Si/歪みGe/SiGe構造の評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- 極浅接合における異なる化学結合状態を持つ不純物の検出とその深さ方向プロファイル評価(ゲート絶縁薄膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- AR-XPS及びHAX-PESによるSiO_2/SiC界面の化学結合状態評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- 極浅接合における異なる化学結合状態を持つ不純物の検出とその深さ方向プロファイル評価