安達 和広 | 産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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概要
関連著者
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安達 和広
産業技術総合研究所
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安達 和広
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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荒井 和雄
産業技術総合研究所
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八尾 勉
独立行政法人産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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岡本 光央
独立行政法人産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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岡本 光央
産業技術総合研究所
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八尾 勉
産業技術総合研究所
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福田 憲司
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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原田 信介
独立行政法人産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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福田 憲司
産業技術総合研究所
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加藤 真
産業技術総合研究所
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原田 信介
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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荒井 和雄
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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福田 憲司
産業技術総合研
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田中 保宣
産業技術総合研究所
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高尾 和人
産業技術総合研究所
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高尾 和人
東芝
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田中 保宣
独立行政法人産業技術総合研究所
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小杉 亮治
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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先崎 純寿
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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児島 一聡
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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下里 淳
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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小杉 亮治
産業技術総合研究所
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児島 一聡
産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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下里 淳
産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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小杉 亮治
産業技術総合研究所先進パワーエレクトロニクス研究センター
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成 慶〓
産業技術総合研究所エネルギー半導体エレクトロニクス研究ラボ
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大橋 弘通
産業技術総合研究所エネルギー半導体エレクトロニクス研究ラボ
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大村 一郎
東芝セミコンダクター社
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谷内 利明
東京理科大学大学院工学研究科
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高塚 章夫
産業技術総合研究所
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矢野 浩司
山梨大学大学院
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松本 聡
NTT環境エネルギー研究所
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池田 善重
ニチコン(株)
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大橋 弘通
東京工業大学工学部
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谷内 利明
東京理科大学工学部
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成 慶〓
東京工業大学
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成 慶〓
産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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色川 泰史
東京工業大学
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大橋 弘通
産業技術総合研究所
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谷内 利明
東京理科大学
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八尾 勉
独立行政法人産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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荒井 和雄
独立行政法人産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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福田 憲司
独立行政法人産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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大橋 弘通
東京工業大学大学院
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福田 憲司
独立行政法人産業技術総合研究所
著作論文
- 埋込ゲート型SiC-SIT(BGSIT)の設計・試作及び電気特性評価
- [特別講演]次々世代CPU用電源(小テーマ:部品・デバイス・材料技術関連)
- Si-MOSFET/SiC-SBDペアによる高パワー密度電力変換器のための素子限界損失解析法
- 産業技術総合研究所におけるSiC素子の最近の進展(Group IV Compound Semiconductors, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
- 産業技術総合研究所におけるSiC素子の最近の進展(Group IV Compound Semiconductors, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
- 4.3mΩcm^2, 1100VノーマリオフSiC IE-MOSFET
- 2.7mΩcm^2, 700Vを有する4H-SiC C面IEMOSFET
- 4.3mΩcm^2, 1100VノーマリオフSiC IE-MOSFET