藤澤 孝文 | 東北大学大学院工学研究科
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概要
関連著者
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藤澤 孝文
東北大学大学院工学研究科
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須川 成利
東北大学 大学院 工学研究科
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須川 成利
東北大学大学院工学研究科
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阿部 健一
東北大学大学院工学研究科 電気・通信工学専攻
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阿部 健一
日本大学工学部情報工学科
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阿部 健一
東北大学大学院工学研究科
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阿部 健一
東北大
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阿部 健一
東北大学大学院工学研究科技術社会システム専攻
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阿部 健一
東北大 大学院工学研究科
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阿部 健一
東北大学工学部電気系
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阿部 健一
東北大学工学部電気工学科
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阿部 健一
東北大学大学院
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寺本 章伸
東北大学未来科学技術共同研究センター
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大見 忠弘
東北大学未来科学技術共同研究センター
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渡部 俊一
東北大学大学院工学研究科
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寺本 章伸
東北大学未来科学共同センター
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大見 忠弘
東北大学未来科学共同センター
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須川 成利
東北大学大学院 工学研究科
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宮本 直人
東北大学未来科学技術共同研究センター
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Ohmi T
Tohoku Univ. Sendai‐shi Jpn
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大見 忠弘
東北大学
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大見 忠弘
東北大学未来科学技術共同研究センター:東北大学wpiリサーチセンター
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Ohmi Tadahiro
Department Of Electronic Engineering Tohoku University
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Ohmi Tadahiro
The New Industry Creation Hatchery Center (niche) Tohoku University
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宮本 直人
東北大学 未来科学技術共同研究センター
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諏訪 智之
東北大学未来科学技術共同研究センター
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熊谷 勇喜
東北大学大学院工学研究科
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山岸 世明
東北大学大学院工学研究科
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小原 崇弘
東北大学大学院工学研究科
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大見 忠弘
東北大学未来科学技術共同研究センター:東北大学原子分子材料科学高等研究機構
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諏訪 智之
東北大学未来科学共同センター
著作論文
- 大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- MOSFET特性ばらつき、RTSノイズの統計的評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- Stress Induced Leakage CurrentとRandom Telegraph Signalノイズとの相関(プロセス科学と新プロセス技術)
- プラズマプロセスによるMOSFET特性ばらつきの統計的評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- CMOSイメージセンサの画素トランジスタのノイズ測定(イメージセンサ一般(IISW報告会含む))
- 大規模アレイTEGを用いた画素ソースフォロア相当のトランジスタのランダム・テレグラフ・シグナル・ノイズの統計的解析 (情報センシング コンシューマエレクトロニクス)