New & Now規格情報 半導体EMC測定法国際規格(1)IEC 61967-1:集積回路の電磁放射測定、150kHz-1GHz 第1部:一般的条件および用語定義 規格解説
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概要
著者
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和田 修己
京都大学大学院工学研究科電気工学専攻
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中村 篤
(株)ルネサステクノロジ
-
中村 篤
株式会社日立製作所半導体事業部半導体技術開発センタ
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中村 篤
株式会社ルネサステクノロジ生産本部実装・テスト技術統括部実装技術開発部
-
和田 修己
京都大学大学院工学研究科
-
中村 篤
(株)ルネサステクノロジ生産本部
-
中村 篤
Nttコミュニケーション科学基礎研究所
-
和田 修己
京都大学大学院工学研究科・電気工学
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