LECCS-I/Oモデルの広帯域化を目的とした3ポートSパラメータ測定によるインピーダンスパラメータ抽出法の検討(若手研究者発表会)
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概要
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筆者らが提案しているディジタルICのEMCマクロモデル(LECCS-I/O)の広帯域化のため,Sパラメータ測定に基づくインピーダンスパラメータ抽出法について検討した.まず,従来モデルにおいて電源-グランド間インピーダンスのシミュレーション精度が高周波で低下する原因を調べたところ,2ポートSパラメータ測定ではIC入力端子に接続された外部回路の影響がモデルのインピーダンスパラメータに現れることが判明した.そこで,IC内部の等価回路と外部回路を分離するためICの入力部を考慮した線形等価回路(LEC)のモデルを構築し,3ポートSパラメータ測定によるパラメータ抽出を検討した.ICの外部負荷や入力端子に接続する回路を変化させた時のインピーダンスシミュレーションを行ったところ,従来モデルと比較してより高い周波数までモデルのシミュレーション精度が向上した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-07-20
著者
-
和田 修己
京都大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
五百旗頭 健吾
岡山大学大学院自然科学研究科
-
豊田 啓孝
岡山大学大学院自然科学研究科
-
古賀 隆治
岡山大学大学院自然科学研究科
-
古賀 隆治
岡山大学工学部
-
大崎 瑛弘
岡山大学大学院自然科学研究科
-
和田 修己
岡山大学工学部
-
和田 修己
京都大学大学院工学研究科
-
和田 修己
京大 大学院工学研究科
-
和田 修己
岡山大学工学部電気電子工学科
-
WADA Osami
Department of Electrical Engineering of the Graduate School of Kyoto University
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