Bit-Error-Rate Measurements of RSFQ Shift Register Memories
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概要
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Error rates of rapid-single-flux-quantum (RSFQ) shift register memories were investigated using a high-speed error-rate measurement system in order to demonstrate their reliability and stability. We designed and implemented an 8 x 8-bit shift register memory using the CONNECT cell library and the SRL 2.5 kA /cm(2) Nb process. The total number of Josephson junctions including the test system-is 4184, and the circuit area is 2.1 mm x 3.2 mm. We measured the error rates of every storage node by reading out the data 2(16) times at the clock frequency of 16 GHz. The measured error rates were lower than 10(-10) with DC bias margin better than +/- 5%.
- Institute of Electrical and Electronics Engineersの論文
著者
-
吉川 信行
横浜国大工
-
Yorozu S
Nec Corp. Tsukuba Jpn
-
Yorozu Shinichi
Jst
-
Yorozu S.
Superconductivity Research Laboratory Istec
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