C-8-16 SFQシフトレジスタメモリのエラーレート測定(C-8.超伝導エレクトロニクス,エレクトロニクス2)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-09-07
著者
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
藤原 完
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国大工
-
藤原 完
超電導工学研究所:日本学術振興会
-
小嶋 英充
横浜国立大学
-
疋田 智浩
横浜国立大学大学院工学府
-
藤原 完
超電導工学研
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
小嶋 英充
横浜国立大学大学院工学府
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