An 80μVrms temporal noise 82dB dynamic range CMOS image sensor with a 13 to 19b variable resolution column-parallel folding integration/cyclic ADC (情報センシング・コンシューマエレクトロニクス)

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概要

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• A 1Mpixel CMOS image sensor with column-parallel folding-integration and cyclic ADCs has 80μV_<rms> (1.2e^-) temporal noise, 82dB dynamic range using 64 samplings in the folding-integration ADC mode. Very high variable gray-scale resolution of 13b through 19b is attained by changing the number of samplings of pixel outputs.

• 2011-03-15

著者

• Itoh Sinya

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Itoh Shinya

  Res. Inst. Of Electronics Shizuoka Univ.

• Suh Sung-ho

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• 川人 祥二

  静大電研

• Kawahito Shoji

  Shizuoka Univ. Hamamatsu‐shi Jpn

• Kawahito Shoji

  Shizuoka Univ. Hamainatsu‐shi Jpn

• Iida Tetsuya

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Suh Sungho

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Kawahito Shoji

  Research Institute Of Electronic Science And Technology Shizuoka University

• Itoh Shinya

  Shizuoka University

• Suh Sungho

  Shizuoka University

• SEO Min-Woong

  Shizuoka University

• IIDA Tetsuya

  Brookman Technology

• WATANABE Hiroshi

  Sanei Hytechs

• TAKASAWA Taishi

  Shizuoka University

• AKAHORI Tomoyuki

  Brookman Technology

• ISOBE Keigo

  Brookman Technology

• WATANABE Takashi

  Brookman Technology

• Kawahito Shoji

  Imaging Devices Laboratory Nanovision Research Centre Research Institute Of Electronics Shizuoka Uni

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