14-1 A Low Noise Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor Using a Column-Parallel Folding-Integration/Cyclic ADC

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概要

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• A 1Mpixel CMOS image sensor with column-parallel folding-integration and cyclic ADCs has 80μVrms (1.2e-) temporal noise, 82dB dynamic range using 64 samplings in the folding-integration ADC mode. Very high variable gray-scale resolution of 13b through 19b is attained by changing the number of samplings of pixel outputs.

• 一般社団法人映像情報メディア学会の論文
• 2011-08-24

著者

• Suh Sungho

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Itoh Shinya

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Seo Min-woong

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Takasawa Taishi

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Suh Sungho

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Kawahito Shoji

  Research Institute Of Electronic Science And Technology Shizuoka University

• IIDA Tetsuya

  Brookman Technology

• AKAHORI Tomoyuki

  Brookman Technology

• ISOBE Keigo

  Brookman Technology

• WATANABE Takashi

  Brookman Technology

• Kawahito Shoji

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University:Brookman Technology

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