A column-parallel Cyclic ADC with 4bit fronted gain stage for low-noise wide dynamic range CMOS image sensors (情報センシング)
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概要
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Characteristics of a column-parallel Cyclic analog-to-converter (ADC) with 4bit fronted gain stage for low-noise wide dynamic range CMOS image sensors are investigated. The signal amplification and output range expansion are obtained by the 4bit fronted gain stage which consist of a switched capacitor (SC) amplifier, 4bit single slope ADC and 4bit digital-to-analog converter (DAC). The front-end gain stage has a function of folding, and high gain=16, a low-noise level while maintaining a wide dynamic range is realized. A prototype 1M-pixel CMOS image sensor is implemented with a 0.18-um 1P4M CMOS image sensor technology. The dynamic range and noise level are 74.2[dB] and 6[e^-], respectively.
- 2010-11-12
著者
-
KAWAHITO Shoji
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Suh Sung-Ho
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Takasawa Taishi
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Seo Min-woong
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Itoh Sinya
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Aoyama Satoshi
Brookman technology, Inc.
-
Itoh Sinya
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Suh Sung-ho
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
川人 祥二
静大電研
-
Seo Min-woong
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Aoyama Satoshi
Brookman Technology Inc.
-
Takasawa Taishi
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Suh Sungho
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Kawahito Shoji
Research Institute Of Electronic Science And Technology Shizuoka University
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