Noise reduction effects of column-parallel multiple sampling circuits (情報センシング)
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概要
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Noise reduction effects of column-parallel multiple sampling (CMS) for CMOS image sensors are investigated. The readout circuit called column-parallel multiple sampling circuits with a switched capacitor integrator reduces effectively not only for thermal noise but also for RTS noise. An experimental result using a 1Mpixel CMOS image sensor shows a low noise level of less than 2 electrons.
- 2009-09-28
著者
-
KAWAHITO Shoji
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
ITOH Shinya
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Suh Sungho
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Iida Tetsuya
Research Institute of Electronics, Shizuoka University
-
Itoh Sinya
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Itoh Shinya
Res. Inst. Of Electronics Shizuoka Univ.
-
Itoh Shinya
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Suh Sung-ho
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
川人 祥二
静大電研
-
Iida Tetsuya
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Suh Sungho
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
Kawahito Shoji
Research Institute Of Electronic Science And Technology Shizuoka University
-
Kawahito Shoji
Imaging Devices Laboratory Nanovision Research Centre Research Institute Of Electronics Shizuoka Uni
-
Iida Tetsuya
Research Institute for Microbial Diseases, Osaka University
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