A dedicated CMOS image sensor for multi-beam laser scanning confocal microscopy and an improvement of scanning speed

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概要

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• Multi-beam laser scanning confocal microscopy with a dedicated CMOS image sensor performing focal-plane pinhole effect, in which any rotating disk is not required, is demonstrated. The axial resolution in the confocal mode measured by the FWHM for a planar mirror was 8.9μm, which is showed that the confocality has been achieved with the proposed CMOS imager sensor.

• 2013-03-15

著者

• Seo Min-woong

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Kawahito Shoji

  Research Institute Of Electronic Science And Technology Shizuoka University

• Yasutomi Keita

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Kagawa Keiichiro

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

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