確率密度関数の推定法とMIA成功率に関する一考察(デザインガイア2010 : VLSI設計の新しい大地)
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概要
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AES暗号モジュールの動作時の電圧の確率密度関数を様々な方法で推定し,それらを用いた相互情報量解析攻撃(Mutual Information Analysis:MIA)を比較した.暗号コアの消費電力と内部状態(レジスタのハミング重みやハミング距離等)の相互情報量を算出するには,これらの確率密度関数を求める必要があるが,それを測定データからどのように推定するかが攻撃成功率に大きく影響する.本研究では,ノンパラメトリックな推定法としてヒストグラム法と核密度推定法,パラメトリックな推定法として正規分布を仮定した母数の最尤推定法を用いて電圧の確率密度関数を求めた.その結果,正規分布の母数の最尤推定を用いたMIAが最も必要なデータ数が少なく,ヒストグラム法を用いたMIAが最も効率が悪いことが明らかとなった.
- 2010-11-23
著者
-
吉田 隆弘
中央大学研究開発機構
-
佐藤 証
独立行政法人産業技術総合研究所情報セキュリティ研究センター
-
堀 洋平
独立行政法人産業技術総合研究所
-
片下 敏宏
産業技術総合研究所
-
佐藤 証
産業技術総合研究所
-
片下 敏宏
筑波大学システム情報工学研究科
-
片下 敏宏
産業技術総合研究所情報セキュリティ研究センター
-
堀 洋平
中央大学研究開発機構
-
佐藤 証
産業技術総合研究所情報セキュリティ研究センター
-
堀 洋平
産業技術総合研究所情報技術研究部門
-
吉田 隆弘
青山学院大学理工学部
-
堀 洋平
産業技術総合研究所情報セキュリティ研究センター
-
堀 洋平
中央大 研究開発機構
-
堀 洋平
産業技術総合研究所
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