S1303-1-1 非球面マイクロレンズ金型の非接触表面性状評価システムの開発(加工計測・評価システム(1))
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概要
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A novel surface measurement system has been developed in order to evaluate the process of fabricating micro lenses. White light interferometer is conventionally applied for the flat surface and spherical surface of lens mold. However it is difficult to evaluate the non-spherical lens mold by using the white light interferometer. We propose light scattering method which applied the extended TIS model in order to evaluate a surface texture of a non-spherical microlens mold. In this report we describe the experiment result which measure the surface roughness of flat Si wafer coated with Cu. The developed system can detect scattered light pattern from the surface, and the roughness is agreed with of TIS.
- 2009-09-12
著者
-
高谷 裕浩
阪大
-
林 照剛
茨城大学工学部超塑性工学研究センター
-
林 照剛
大阪大
-
本石 直弘
大阪大
-
林 照剛
茨大
-
林 照剛
大阪大学大学院工学研究科機械工学専攻
-
高谷 裕浩
大阪大学大学院工学研究科機械工学専攻
-
林 照剛
大阪大学大学院
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