ソフトエラー対策としてのSuperSRAM技術(集積エレクトロニクス)
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概要
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今回開発した16Mbit SRAM(SuperSRAM)のソフトエラー耐量を考察した.RAMにおけるソフトエラーは以前より報告されているが,特にSRAMにおいては,微細化によりソフトエラーの問題が深刻となってきており,対策が必要である.SuperSRAMはソフトエラー等の問題点を解決するとともに,低コストで大容量のSRAMを実現するために考案したものである.中性子線ビームを用いた加速評価及び実装評価の結果,ソフトエラーは無視できるほど小さいことが確認できた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-04-01
著者
-
中嶋 泰
(株)ルネサステクノロジ
-
吉原 務
早稲田大学大学院情報生産システム研究科
-
有田 豊
藤田保健衛生大学短期大学
-
木原 雄治
ルネサステクノロジ
-
佐藤 広利
ルネサステクノロジ
-
木原 雄治
(株)ルネサステクノロジ
-
有田 豊
(株)ルネサステクノロジ
-
岡村 怜王奈
早稲田大学大学院情報生産システム研究科
-
佐藤 広利
(株)ルネサステクノロジ
-
岡村 怜王奈
早稲田大学大学院
-
木原 雄治
ルネサスエレクトロニクス株式会社
-
吉原 務
早稲田大学大学院
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