シリコーンによる電気接点接触障害の評価技術(1) : 新たな評価装置を用いた環境評価試験について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

概要

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シリコーン系の化合物から発生するガスによって接点が接触不良となる現象は広く知られている。シリコンによる接触障害現象は、開閉負荷領域が一定の範囲内に存在する場合に発生することが多くの研究者によって確認されており、不具合を回避するために、該当負荷領域での使用に関しては、高気密タイプのデバイスを推奨したり、周囲にシリコン系のガスの発生源を置かないことが求められている。最近はシリコン系の材料はその使用範囲を拡大しており、シリコンガス発生源を排除することは困難な状況となっている。特に自動車や家電用電化製品など最終ユーザーの使用環境が特定できないアプリケーションにおいては、用いられるデバイスの信頼性を評価することが求められる。従来の評価ではシリコン系ガスの発生源として、シリコンオイルなどを用いた相対的な評価法が主であった。これらの手法は実問題の再現という点では、比較的効果的であるが、現象の定量性や再現性において課題が存在する。そこで筆者等はシリコン系ガスの発生量と空間温度を制御できる評価装置を用い評価の再現性の確認と温度とシリコン系ガスの濃度およびガス種の影響を評価した結果を報告する。
2009-02-13

シリコーンによる電気接点接触障害の評価技術(1) : 新たな評価装置を用いた環境評価試験について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)

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