シリコーンによる電気接点の接触信頼性(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)

概要

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リレースイッチなどの電気接点を有する継電機器では、周辺環境に存在する有機シリコンガス(シロキサンガス)の固化堆積による接触障害の発生が問題視されている。シロキサンガスの堆積現象は、過去多くの検討がなされており、接点間アークによってシロキサンガス分子が分解され、酸化シリコンとして接点上に堆積することで接触障害を引き起こす現象が解明されている。この現象は非常に興味深くまた深刻であり、電気接点を取り扱う際の注意事項として、有機シリコンは継電機器周辺から排除することが求められている。しかし、昨今の化学物質に関する規制や高い耐久性などから、有機シリコンの使用範囲は拡大しており、それを継電器周辺から排除することは非常に困難となっている。特に自動車業界や、家電業界向け継電器は最終ユーザーの使用環境が特定できないことや、使用条件が多岐にわたることから、多くのトラブルが発生しており、また今後発生が予測される。筆者は、過去銀接点を用いた代表的な継電器におけるシリコントラブルの発生電力範囲以外に触媒作用を持った接点では、より低い電力領域でもトラブルが発生することを報告してきた。本稿では、シリコン化合物が生成した接点の接触信頼性を、シリコン化合物の量と接触抵抗の観点から評価した結果を報告する
2009-11-13

シリコーンによる電気接点の接触信頼性(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)

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