Extraction method of the interface and nitride trap density in nitride-based charge trapped flash memories using an optical response (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))

スポンサーリンク

概要

著者

関連論文

もっと見る

スポンサーリンク