薄膜ノイズ抑制体を模擬した円盤モデルにおける渦電流損失の周波数特性(回路/デバイス/一般-若手研究者発表会)
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概要
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これまで薄膜集積型RFノイズ抑制体において,膜中の損失を最大とするようなシート抵抗の値が存在することを実験ならびに電磁界シミュレーションによって明らかにしてきた.本研究は,そのメカニズムを解析的に明らかにするため,膜損失の主要な一部を担う渦電流損失は膜面に垂直に鎖交する磁束によって生じると考え,円盤モデルを考案して解析した.比較のため有限要素法電磁界シミュレータによる解析も行った.その結果,周波数に対して渦電流損失,損失を最大とするシート抵抗の値が定性的に一致する傾向を明らかにできたので報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-06-15
著者
-
山口 正洋
東北大学大学院工学研究科電気・通信工学専攻
-
島田 寛
東北大学大学院工学研究科
-
島田 寛
東北大科研
-
島田 寛
東北大学工学研究科電気通信工学専攻
-
島田 寛
東北大・多元研
-
丸田 佳織
三菱総合研究所
-
山口 正洋
東北大・工
-
室賀 翔
東北大学大学院工学研究科電気・通信工学専攻
-
丸田 佳織
東北大学大学院工学研究科電気・通信工学専攻
-
山口 正洋
東北大学大学院工学研究科
-
山口 正洋
東大 大学院医学系研究科
-
島田 寛
東北大
-
室賀 翔
東北大学
-
山口 正洋
東北大学大学院
-
室賀 翔
東北大学大学院工学研究科
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