Fe系シリサイドによるフォトニック結晶の作製(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Fe系シリサイドは半導体,強磁性,金属と様々な物性を示す.この中でβ-FeSi_2は屈折率が高く(n>5.2),高コントラストフォトニック結晶への応用が期待されている.しかしながら,β-FeSi_2はエッチング速度が小さく,対マスク選択比が小さいためフォトニック結晶の作製ができなかった.そこで,本研究では磁気中性線プラズマによる低圧エッチングを用いてエッチング特性(速度,異方性と対マスク選択比)を改善し,β-FeSi_2フォトニック結晶を作製した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-11-17
著者
-
國松 俊佑
京都大学大学院エネルギー科学研究科
-
前田 佳均
京都大学大学院エネルギー科学研究科
-
今井 章文
京都大学大学院エネルギー科学研究科
-
秋山 賢輔
神奈川県産業技術総合研究所
-
秋山 賢輔
神奈川産技センター
-
秋山 賢輔
神奈川県産業技術センター
-
秋山 賢輔
神奈川県産技セ
関連論文
- 21pTC-2 イオンビーム解析法による低エネルギーC_イオンのスパッタリング効果の評価III(21pTC 融合セッション(原子分子・放射線)原子分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 20pTC-6 MeVクラスターイオン誘起二次電子収量とクーロン爆発イメージの同時計測(20pTC 放射線物理(2次粒子放出・クラスタービーム),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- Fe_3Si/Ge(111)ヘテロエピタキシャル成長の軸配向性の評価(シリコン関連材料の作製と評価)
- 27pRA-7 高速炭素クラスターイオン衝突による非晶質炭素薄膜からの二次電子放出(27pRA 放射線物理(クラスター・二次粒子放出),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 共役反転格子フォトニック結晶での導波解析(シリコン関連材料の作製と評価)
- β-FeSi_2の1.55μm発光増強(半導体Si及び関連材料・評価)
- 環境に優しい光半導体 : β-FeSi_2
- 鉄シリサイド薄膜の発光と光電特性 (特集 シリサイド半導体の最新動向)
- 鉄シリサイドの結晶成長と電気, 光学特性の改善
- 鉄シリサイドの結晶成長と電気,光学特性の改善(シリコン関連材料の作製と評価)
- 強磁性体シリサイド/Geの低温エピタキシャル成長とスピントランジスタ(第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
- 強磁性体シリサイド/Geの低温エピタキシャル成長とスピントランジスタ(第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
- FinFET型多値フラッシュメモリの動作解析(半導体Si及び関連材料・評価)
- 大バルクハウゼン効果を用いた薄膜磁気センサの試作
- 大バルクハウゼン効果を用いた薄膜磁気センサの作製(センサ・計測)
- 大バルクハウゼン効果を利用した薄膜磁気センサの小型化
- 大バルクハウゼン効果を用いた薄膜磁気センサの作製
- 大バルクハウゼン効果を利用した薄膜磁気センサの作製
- β-FeSi_2のイオンビーム合成 : アニールによるSi空孔の変化(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- β-FeSi_2のイオンビーム合成 : アニールによるSi空孔の変化(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- β-FeSi_2のイオンビーム合成 : アニールによるSi空孔の変化(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- β-FeSi_2のイオンビーム合成 : アニールによるSi空孔の変化
- 18aPS-45 Fe_3Siの電子輸送現象(18aPS 領域3ポスターセッション(磁性),領域3(磁性,磁気共鳴))
- 鉄シリサイドの光学応用
- Fe系シリサイドによるフォトニック結晶の作製(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- Fe系シリサイドによるフォトニック結晶の作製(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- Fe系シリサイドによるフォトニック結晶の作製(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- 総論:鉄シリサイド半導体の基礎と応用 (特集 シリサイド半導体の最新動向)
- シリサイド半導体の研究と光エレクトロニクスへの応用(2004先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア太平洋会議)
- シリサイド半導体の研究と光エレクトロニクスへの応用(2004先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア太平洋会議)
- 25pRA-11 イオンビーム解析法による低エネルギーC_イオンのスパッタリング効果の評価IV(25pRA 放射線物理(固体との相互作用・クラスター),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 高速スキャンニングCWレーザ・アニーリングを用いたシリコン基板温度変化の有限要素法による考察
- 化学気相成長法によるβ-FeSi2薄膜の結晶成長とPL発光特性 (特集 シリサイド半導体の最新動向)
- イオンチャネリングによるホイスラー合金Fe_Mn_xSi(111)/Ge(111)ヘテロエピタキシャル界面の軸配向性の評価(シリコン関連材料の作製と評価)
- 21pEB-11 C_イオン照射によるSiスパッタリング収量の非線形効果のエネルギー依存性(21pEB 放射線物理(クラスター・微粒子),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 26pKA-10 収差補正HRTEMを用いた3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の解析(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))