Scanning Tunneling Microscopy Observation of Ar-Ion-Bombarded Si(001) Surfaces and Regrowth Processes by Thermal Annealing
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1993-12-30
著者
-
Sato T
Jeol Ltd.
-
YAO Takafumi
Department of Physics, Faculty of Science Tohoku University
-
SATO Tomoshige
JEOL Ltd.
-
IWATSUKI Masashi
JEOL Ltd.
-
SUEYOSHI Takashi
JEOL Ltd.
-
UESUGI Katsuhiro
Department of Electrical Engineering, Hiroshima University
-
YOSHIMURA Masamichi
Department of Electrical Engineering, Hiroshima University
-
Yao Takafumi
Department Of Electrical Engineering Hiroshima University
-
Yao Takafumi
Institute For Materials Research Tohoku University
-
吉村 昌弘
Division Of Electric Electronic And Information Engineering Graduate School Of Engineering Osaka Uni
-
Izawa M
Kek Ibaraki Jpn
-
Iwatsuki M
Jeol Ltd.
-
Yoshimura Masamichi
Department Of Applied Physics The University Of Tokyo:(present Address) Department Of Electrical Eng
-
Iwatsuki Masashi
Jeol Ltd
-
Uesugi Katsuhiro
Department Of Electrical Engineering Hiroshima University
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