薄膜ACELパネルの最適エージング法

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概要

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• A new aging sequence consisting of three steps was developed to minimize the diameter of pinhole failures and to reduce aging time. 1) Point defects are eliminated by discharge line by line, appling relative low-power pulse voltage (around threshold voltage, 20μs). 2) The power consumption of EL panel is minimized. Most of the point defects are eliminated by these two steps. 3) The initial shift of Brightness-Voltage relationship is stabilized in an accelated condition. As a result, a 640×400 pixel EL panel was obtained.

• 社団法人映像情報メディア学会の論文

著者

• 見田 充郎

  沖電気工業

• 見田 充郎

  沖電気工業株式会社 研究開発本部

• 関戸 睦弘

  沖電気工業株式会社 研究開発本部

• 林 直司

  沖電気

• 安孫子 一松

  沖電気

• 林 直司

  沖電気工業(株)研究開発本部基盤技術研究所

• 安孫子 一松

  沖電気工業(株)研究開発本部基盤技術研究所

• 菅野 裕雅

  沖電気

• 小泉 真澄

  沖電気

• 菅野 裕雅

  沖電気工業(株)基盤技術研究所

• 小泉 真澄

  沖電気工業(株)基盤技術研究所

• 関戸 睦弘

  沖電気工業株式会社研究開発本部

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