積層型CCDセンサのランダム雑音の解析 : 固体撮像関連 : 情報入力 : コンシューマエレクトロニクス
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概要
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A charge injection type "two level" CCD image sensor has a peculiar random noise generated from its picture cells. The noise has been studied from point of view of electron emission from the storage diode. The actual noise value obtained by measuring a 1-inch 2-million pixel image sensor corresponds to the analytical value.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1993-03-04
著者
-
塩山 善之
株式会社東芝研究開発センター
-
羽鳥 文敏
株式会社東芝研究開発センター
-
塩山 善之
(株)東芝研究開発センターULSI研究所
-
羽鳥 文敏
(株)東芝研究開発センターULSI研究所
-
松長 誠之
(株)東芝研究開発センターULSI研究所
-
羽鳥 文敏
(株)東芝セミコンダクター社
-
松長 誠之
株式会社東芝 セミコンダクター社 マイクロエレクトロニクス技術研究所 デバイス技術研究所
-
松長 誠之
東芝 研開セ
-
松長 誠之
(株)東芝ulsi研究所
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