超高速可飽和吸収体光ゲートを用いた3ps,2.4Gbit/s全光短パルス識別再生実験
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概要
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前回我々は、数psのキャリア寿命を有する超高速MQW反射型可飽和吸収体光スイッチを用いた光識別回路の提案を行った。今回、光ゲートに対する放熱対策、及びモードロックLDを使った3psの短パルスを用いて動作パワーを軽減し、2.4Gbit/sのビットレートで光識別実験を行った。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-09-05
著者
-
高橋 亮
Ntt光エレクトロニクス研究所
-
平野 章
NTT光ネットワークシステム研究所
-
萩本 和男
NTT光ネットワークシステム研究所
-
津田 裕之
慶応義塾大学理工学部
-
津田 裕之
日本電信電話株式会社 光エレクトロニクス研究所
-
佐藤 憲史
NTT光エレクトロニクス研究所
-
津田 裕之
NTT光ネットワークシステム研究所
-
津田 裕之
Keio Univ. Yokohama‐shi Jpn
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